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中兴通讯取得光模块劣化测试专利,能确定待测光模块的劣化程度

发布日期:2024-02-28 04:27    点击次数:198


金融界2024年2月23日消息,据国家知识产权局公告,中兴通讯股份有限公司取得一项名为“一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质“,授权公告号CN112994786B,申请日期为2019年12月。

专利摘要显示,本申请提出一种光模块劣化测试方法、系统、设备和存储介质。该方法包括:根据预先采集的待测光模块的H偏振态误码计数和V偏振态误码计数确定对应的H偏振态误码率和V偏振态误码率;根据H偏振态误码率和V偏振态误码率确定对应的H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量;根据H偏振态误码卡方表征量和V偏振态误码卡方表征量确定偏振态信号质量差异表征量;根据偏振态信号质量差异表征量确定待测光模块的劣化程度。

来源:金融界

光模块征量卡方表误码率振态发布于:北京市

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